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維修島津EDX-7000/8000--SDD檢測器FAST SDD代表Amptek高性能的硅漂移檢測器（SDD），能夠在保持分辨率的同時，計數(shù)率超過1000000 CPS（每秒計數(shù)）。FAST SDD還可與C系列（Si3N4）低能窗一起使用，用于軟x射線分析。

與傳統(tǒng)SDD不同，F(xiàn)AST SDD在密封的TO-8封裝內使用結柵場效應晶體管（JFET）和外部前置放大器，在TO-8封裝內部使用互補的金屬氧化物半導體（CMOS）前置放大器，并用金屬氧化物半導體場效應管（MOSFET）代替JFET。這降低了電容，提供了更低的串聯(lián)噪聲，并在極短的峰值時間內提高了分辨率。FAST SDD使用相同的檢測器，但前置放大器在短峰值時間內提供較低的噪聲。改進的（較低的）分辨率能夠隔離/分離具有接近能量值的熒光X射線，否則峰值將重疊，從而允許用戶更好地識別其樣品中的所有元素。峰值時間短也會提高計數(shù)率；更多的計數(shù)提供更好的統(tǒng)計數(shù)據。

維修島津EDX-7000/8000--SDD檢測器特點有：

1. 高計數(shù)率。由于收集陽極的電容極低，相比通常的硅PIN器件，SDD具有更短的上升時間，因而特別適合在高計數(shù)率的情況下工作。

2. 高能量分辨率。SDD的陽極面積小于通常硅PIN器件，由于電容的減小，在收集等量電荷的情況下具有更高的電壓，提高了其能量分辨率。

3. 可在常溫下工作。SDD的電容和漏電流要比一般探測器小兩個數(shù)量級以上，通常把場效應管（FET）和Peltier效應器件都整合到一起，這樣儀器在常溫下就能滿足SDD的制冷需求，特別適用于便攜式設備的現(xiàn)場使用。

根據國家地質實驗測試中心的報告，SDD探測器從1962年以Si探測器問世以來，Si-PIN、高純及四葉花瓣型Ge探測器、Si漂移、SDD等不同性能的探測器， SDD探測器在計算數(shù)與制造工藝的穩(wěn)定性方面取得突破，從而替代復雜的波長色散X射線光譜儀的Si-pIN探測器。