產(chǎn)品名稱(chēng)：二手牛津 WDS 波譜儀 Wave
產(chǎn)品型號(hào)：
更新時(shí)間：2026-01-12
產(chǎn)品特點(diǎn)：二手牛津 WDS 波譜儀 Wave的功能及EDS的速度和靈活性，可解析X射線譜峰，對(duì)微量元素和痕量元素進(jìn)行定量分析。AZtec軟件集成了EDS能譜儀和WDS波譜儀的各項(xiàng)操作，保證適合于所有專(zhuān)業(yè)水平的用戶，同時(shí)Tru-Q®處理技術(shù)可保證結(jié)果的準(zhǔn)確性。對(duì)于具有挑戰(zhàn)的顯微分析，AZtecWave能快速準(zhǔn)確地給出答案。
產(chǎn)品詳細(xì)資料：
二手牛津 WDS 波譜儀 Wave WDS（或WDX）代表波長(zhǎng)色散X射線譜儀。
WDS是一種通過(guò)測(cè)量電子束轟擊固體樣品產(chǎn)生的特征X射線來(lái)確定元素組成的分析技術(shù)。它通常用于識(shí)別元素或定量測(cè)定樣品上微米尺度的元素含量，以及獲得樣品表面元素的分布圖。
通過(guò)WDS測(cè)量X射線信號(hào)與更普遍的SEM-EDS方法測(cè)定元素含量類(lèi)似
AZtecWave結(jié)合了WDS的獨(dú)特功能及EDS的速度和靈活性，可解析X射線譜峰，對(duì)微量元素和痕量元素進(jìn)行定量分析。AZtec軟件集成了EDS能譜儀和WDS波譜儀的各項(xiàng)操作，保證適合于所有專(zhuān)業(yè)水平的用戶，同時(shí)Tru-Q處理技術(shù)可保證結(jié)果的準(zhǔn)確性。對(duì)于具有挑戰(zhàn)的顯微分析，AZtecWave能快速準(zhǔn)確地給出答案。 詢價(jià) ......
準(zhǔn)確度和靈敏度達(dá)到新水平
提高元素識(shí)別和成分分析的準(zhǔn)確性，如某些元素譜峰在EDS譜圖中有明顯重疊
微量元素的識(shí)別和測(cè)量水平低至數(shù)十ppm
對(duì)所有濃度水平的元素進(jìn)行準(zhǔn)確定量
用能譜儀 (EDS) 測(cè)量常量元素，用WDS測(cè)量譜峰嚴(yán)重重疊或痕量元素
解決冶金、電子、礦物學(xué)/地質(zhì)學(xué)、陶瓷、法醫(yī)學(xué)和核能發(fā)電各行業(yè)成分表征的挑戰(zhàn)
所有類(lèi)型用戶均可使用
二手牛津 WDS 波譜儀 Wave在AZtec平臺(tái)中，集成了EDS和WDS分析的工作流程
新技術(shù)利用了EDS和SEM端的實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)輸入而優(yōu)化WDS設(shè)置，確保在很短的采集時(shí)間內(nèi)為所有級(jí)別的用戶提供出色的結(jié)果
獨(dú)特的三路控制，在采集前優(yōu)化束流，采集時(shí)間和精度
有經(jīng)驗(yàn)的用戶也可手動(dòng)控制
EDS和SEM信息自動(dòng)采集并優(yōu)化設(shè)置：
采集時(shí)間
線系
衍射晶體
背景位置
EDS采集參數(shù)
EDS探測(cè)器位置
WDS 譜圖掃描：
晶體
狹縫尺寸
狹縫位置
駐留時(shí)間
適用于所有元素
牛津儀器波譜儀AZtecWave令掃描電鏡也可實(shí)現(xiàn)電子探針的功能
針對(duì)所有能量進(jìn)行了優(yōu)化，這意味著始終可用推薦的X射線線系進(jìn)行分析
可區(qū)分包括過(guò)渡金屬K線在內(nèi)的所有常見(jiàn)重疊的元素線系
在較短的采集時(shí)間和低束流條件下可獲得極低的檢測(cè)限
與AZtecLive EDS軟件和技術(shù)無(wú)縫集成
Tru-Q技術(shù)使得EDS在高達(dá)400,000cps計(jì)數(shù)率條件下提供電子探針級(jí)定量精度
通過(guò)Aztec Wave使用EDS及WDS聯(lián)用的方式檢測(cè)不銹鋼樣品的元素含量
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