產(chǎn)品名稱：二手蔡司場發(fā)射電鏡，蔡司SUPRA 40VP
產(chǎn)品型號：
更新時間：2024-10-30
產(chǎn)品特點：二手蔡司場發(fā)射電鏡，蔡司SUPRA 40VP場發(fā)射掃描電子顯微鏡（FESEM）是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高分辨率，能做各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。該儀器利用二次電子成像原理，在鍍膜或不鍍膜的基礎(chǔ)上，低電壓下通過在納米尺度上觀察生物樣品如組織、細胞、微生物以及生物大分子等，獲得忠實原貌的立體感樣品表面超微形貌結(jié)構(gòu)信息
產(chǎn)品詳細資料：
二手蔡司場發(fā)射電鏡，蔡司SUPRA 40VP原理介紹
掃描電子顯微鏡因其分辨率高、景深大、圖像更富立體感、放大倍數(shù)可調(diào)范圍寬等優(yōu)點而被廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、無機非金屬材料及器件等的檢測。隨著我國經(jīng)濟的迅速發(fā)展，高校、科研單位、企業(yè)等大量引進了場發(fā)射掃描電子顯微鏡。但是在掃描電子顯微鏡的使用過程中，特別是在安裝初期，使用者通常由于對電鏡的運行狀態(tài)缺乏系統(tǒng)認識，經(jīng)常會遇到軟件死機、樣品臺被卡、真空問題等多種故障。解決方式一般為請維修工程師上門維修，除花費時間和費用外，也造成了對電鏡操作者的心里束縛。筆者以德國蔡司ULTRA PLUS掃描電子顯微鏡為例，從環(huán)境條件、光學(xué)系統(tǒng)、真空系統(tǒng)及附件設(shè)施4個方面總結(jié)了熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡運行狀態(tài)的幾種檢查方法和維護保養(yǎng)經(jīng)驗，并結(jié)合故障實例進行了分析
查看環(huán)境條件
掃描電子顯微鏡的使用環(huán)境條件主要涉及溫度、濕度、震動、磁場強度、接地等幾個因素。一般情況下，環(huán)境溫度需控制在22～25℃，相對濕度以小于70%為宜，保證實驗室清潔整齊，避免大聲喧嘩及震動、磁場的干擾。溫濕度控制需配備空調(diào)和除濕機，特別是在南方地區(qū)一定要保證對濕度的控制，避免溫濕度對電鏡電子部件的影響。由于場發(fā)射掃描電子顯微鏡的分辨率較高，對震動和磁場強度的要求也較高，所以需盡量避免震動和雜散磁場的干擾。一般在安裝時，建議將電鏡放置在樓體一層，遠離輸電線路、大功率設(shè)備等，并做防震地基和獨立地線設(shè)置。電鏡地線要求必須是獨立地線，即接地體到接線端子均獨立，避免地線連接到公共接地體。在使用過程中，若周圍有雜散磁場，在大倍數(shù)觀察時圖像會出現(xiàn)縱或橫條紋干擾?？傊粘Ｊ褂眠^程中要嚴格控制電鏡的環(huán)境條件。以ULTRAPLUS掃描電子顯微鏡為例，環(huán)境條件要求如下：溫度保持在21～25℃，相對濕度小于65%，磁場強度小于3×10－7T，噪聲強度小于65dB，獨立地線的接地電阻小于0.1Ω。
檢查光學(xué)系統(tǒng)
（2）檢查像散情況。像散是電子光學(xué)系統(tǒng)中所形成的磁場或靜電場不能滿足軸對稱要求時產(chǎn)生的。圖像聚焦和消像散是圖片質(zhì)量的重要保證。若反復(fù)聚焦后圖像仍不清晰，在欠焦和過焦時垂直方向上出現(xiàn)模糊并拉長的現(xiàn)象，則說明有像散存在，需要調(diào)節(jié)像散。正常情況下也會出現(xiàn)像散，可通過觀察狀態(tài)欄中的像散值查看是否處于正常狀態(tài)。若X或Y 軸的像散值小于30%，則說明像散處于正常狀態(tài)；若像散值大于30%，則說明像散處于非正常狀態(tài)。產(chǎn)生像散的原因是多方面的，如透鏡材料不均勻、極靴孔之間對中不好以及加工精度影響等，而電鏡在使用過程中電子通道周圍部分被污染而帶電是產(chǎn)生像散的主要原因。以ULTRA PLUS掃描電子顯微鏡為例，其電子通道的污染會形成一個局部的靜電場，干擾電子束的正常聚焦。雖然電鏡中設(shè)置八極電磁式消像散器，可產(chǎn)生一個弱的校正磁場，但其作用是有限的。若電子通道污染，則需清洗光闌和其他電子束通道部位來消除像散。
檢查真空系統(tǒng)
二手蔡司場發(fā)射電鏡，蔡司SUPRA 40VP應(yīng)用范圍
場發(fā)射掃描電子顯微鏡，廣泛用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質(zhì)礦物、商品檢驗、產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析?？梢杂^察和檢測非均相有機材料、無機材料及在上述微米、納米級樣品的表面特征。該儀器的最大特點是具備超高分辨掃描圖像觀察能力，尤其是采用新數(shù)字化圖像處理技術(shù)，提供高倍數(shù)、高分辨掃描圖像，并能即時打印或存盤輸出，是納米材料粒徑測試和形貌觀察儀器。也是研究材料結(jié)構(gòu)與性能關(guān)系所重要工具。
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