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二手JEOL 場(chǎng)發(fā)射電鏡 SEM+EDX+EBSD的主要特點(diǎn)有:應(yīng)用了浸沒(méi)式肖特基電子槍技術(shù)的電學(xué)系統(tǒng);利用GB(Gentle Beam 模式)和各種檢測(cè)器在低加速電壓下能高分辨觀察和選擇信號(hào)的TTLS系統(tǒng)(Through-The-Lens System);電疊加的混合式物鏡。
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二手 JEOL JSM-7100F 場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡采用通用性強(qiáng)的out-lens式物鏡和High Power Optics(高性能電子光學(xué)系統(tǒng)),操作非常方便?;谟脩粲押玫腟EM可以和具有多種特性的附件組合,如低加速電壓下高分辨率的觀察和分析、異種信號(hào)的同時(shí)觀察 (TTLS系統(tǒng))、低真空模式(LV系統(tǒng))下的觀察和分析、用大視場(chǎng)觀察和分析,可以滿足每個(gè)用戶的個(gè)性化需求。
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二手JEOL JSM-7200F 場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡電子光學(xué)系統(tǒng)應(yīng)用了日本電子旗艦機(jī)-JSM-7800F Prime采用的浸沒(méi)式肖特基電子槍技術(shù),標(biāo)配了TTLS系統(tǒng)(Through-The-Lens System),因此無(wú)論是在高/低加速電壓下,空間分辨率都比傳統(tǒng)機(jī)型有了很大的提升。
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二手日本電子 JSM-7900F 場(chǎng)發(fā)射電鏡JEOL新一代FE-SEM旗艦機(jī)型。 它繼承了上一代廣獲好評(píng)空間分辨率、高穩(wěn)定性、多種功能等性能的同時(shí),操作性能簡(jiǎn)單化。 該設(shè)備不依賴(lài)操作者的技能,始終能夠發(fā)揮其最佳性能。
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二手JEOL IT-500HR場(chǎng)發(fā)射電鏡屬于掃描電子顯微鏡,歸為 InTouchScope™系列,憑借高亮度電子槍與優(yōu)化的透鏡系統(tǒng),兼顧高分辨率成像與高效元素分析能力,適配多領(lǐng)域樣品觀測(cè)與成分檢測(cè)需求。
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二手HITACHI S-4800掃描電子顯微鏡冷場(chǎng)發(fā)射電子源提供1.0 nm超高分辨率成像,0.5-30 kV連續(xù)可調(diào)電壓精準(zhǔn)適配各類(lèi)樣品,配合E×B技術(shù)實(shí)現(xiàn)SE/BSE信號(hào)自由切換,10mm2能譜儀可快速完成Be到U的全元素分析。
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二手日立 SU-8230 冷場(chǎng)超高分辨掃描電鏡主要功能及應(yīng)用范圍:微區(qū)形貌、微區(qū)成分分析。可以觀察和檢測(cè)非均相有機(jī)、無(wú)機(jī)材料,及這些材料在納米、微米級(jí)樣品的表面特征。該儀器廣泛應(yīng)用于金屬材料、高分子材料、半導(dǎo)體材料、化工原料、地礦物品、寶石文物等微觀形貌的研究及公安刑偵的物證分析。
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Hitachi 二手SU5000熱場(chǎng)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡允許在高真空和可變壓力模式之間進(jìn)行簡(jiǎn)單的切換。樣品室可容納大型樣品(-200mmφ,-80mmH)。使用無(wú)場(chǎng)光學(xué)元件和可變壓力輕松對(duì)任何類(lèi)型的樣品進(jìn)行成像,最多可同時(shí)提供4個(gè)信號(hào),3D MultiFinder工具,使樣品可以輕松傾斜和旋轉(zhuǎn),影像依然保持居中和聚焦。
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Hitachi 二手 SU-5000場(chǎng)發(fā)射電鏡 SEM+EDX是一款高性能電子光學(xué)系統(tǒng),具備2.0 nm的二次電子分辨率和強(qiáng)大的低加速電壓成像能力(低至100 V),支持高效微區(qū)分析及材料研究。其“EM Wizard”界面簡(jiǎn)化了操作流程,提供高真空與可變壓力模式之間的靈活切換,并配備了多種分析工具如EDS、WDS、EBSD等,適用于廣泛的科研領(lǐng)域。
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二手 日立 SU-5000 熱場(chǎng)發(fā)射電鏡允許在高真空和可變壓力模式之間進(jìn)行簡(jiǎn)單的切換。樣品室可容納大型樣品(-200mmφ,-80mmH)。使用無(wú)場(chǎng)光學(xué)元件和可變壓力輕松對(duì)任何類(lèi)型的樣品進(jìn)行成像,最多可同時(shí)提供4個(gè)信號(hào),3D MultiFinder工具,使樣品可以輕松傾斜和旋轉(zhuǎn),影像依然保持居中和聚焦。
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